В работе на стеклянную подложку методом гелевого спинового покрытия по Солу были нанесены высокопрозрачные проводящие тонкие пленки NiO. Исследовано влияние температуры отжига на структурные, оптические и электрические свойства.

DRX-анализ показал, что пленки ZnO имеют поликристаллическую природу, а при высокой температуре наблюдалась кубическая фаза NiO с преимущественной ориентацией (111) и (200), соответствующая пленкам NiO. Оптимальные значения среднего размера кристаллитов рассматриваемых пленок ZnO наблюдаются начиная с температуры отжига 550 °C.

На увеличение размера кристаллитов указывает усиление кристалличности при ориентации NiO по оси a. Все отожженные пленки демонстрируют среднюю оптическую прозрачность около 80 % в видимом диапазоне.

Сдвиг оптического пропускания в сторону более высокой длины волны может быть продемонстрирован увеличением энергии полосовой щели с 3,536 до 3,854 эВ при повышении температуры отжига от 450 до 600 °C. Наблюдаемая энергия Урбаха тонких пленок ZnO уменьшается с 339,311 до 180,756 мэВ.

Хорошая электропроводность была обнаружена при температуре 550 °C. .