In questo libro viene riportato il lavoro svolto sull'imaging a contrasto di fase a raggi X. Il lavoro comprende simulazioni per studiare la fattibilità dell'imaging a contrasto di fase e l'allestimento di un impianto sperimentale in laboratorio che utilizza una sorgente di microfocus a raggi X e un rivelatore CCD per effettuare gli esperimenti.

L'imaging a contrasto di fase dipende da diversi parametri come la distanza sorgente-oggetto, oggetto-rivelatore, energia della sorgente, ecc. Per ottimizzare questi parametri sono state effettuate ampie simulazioni teoriche con la tecnica di imaging a contrasto di fase per sorgenti monocromatiche e policromatiche.

Utilizzando la struttura di cui sopra, sono stati studiati per la prima volta materiali avanzati come microsfere di zirconia rivestite di pirocarbonio (PyC) e carburo di silicio e microsfere di allumina rivestite di PyC, utilizzando la tecnica di imaging a contrasto di fase a raggi X. Questi oggetti sono rivestiti con materiali a basso Z e hanno uno scarso assorbimento dei raggi X, pertanto con la radiografia convenzionale non è possibile vedere i rivestimenti.

Questi materiali sono quindi ideali per mostrare gli effetti del contrasto di fase. Questi tipi di oggetti sono utilizzati nei reattori raffreddati a gas ad alta temperatura.

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